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Sistema de inspección por rayos X microfocal JHIMS X540
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JHIMS X540: Rayos X de microenfoque de precisión para la detección de defectos en PCB y BGA. Aumento de 200x, análisis con IA, precisión de 5-15 μm. Optimice ahora el control de calidad de los componentes electrónicos.
Building A1, Runteng Industrial Park, No. 4 Xishan Road, Longteng Community, Shiyan Subdistrict, Bao'an District, Shenzhen